 DFT可测试性设计理论和实践培训班 |
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课程说明： |
该课程是对可测试设计（DFT）内容的一个系统化的介绍。通过对该课程的学习，学员不仅能对DFT的概念及理论有系统的认识，更重要的是通过课堂内容及实验的讲解，可以对DFT所涉及的问题有一定的分析和解决能力。本课程涵盖常用的方法---扫描合成（SCAN synthesis）,内建自我测试（BIST），自动测试向量产生（automatic test pattern generation）,及错误模型（fault simulation）等，
课程依托大型SOC项目，系统介绍了在实际项目中，怎样考虑所面临的问题，并终采取有效的方法
解决测试品质及测试成本等问题。
本课程适合于使用数字电路进行科研和芯片设计的学生和工程师，也适合于有志于从事数字芯片设计工作，期望进入数字芯片设计领域的相关人员。参加学习的学员可以是零基础的理工科本科生或研究生。
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上课时间和地点 |
上课地点：【上海】：同济大学(沪西)/新城金郡商务楼(11号线白银路站) 【深圳分部】：电影大厦(地铁一号线大剧院站)/深圳大学成教院 【北京分部】：北京中山学院/福鑫大楼 【南京分部】：金港大厦(和燕路) 【武汉分部】：佳源大厦（高新二路） 【成都分部】：领馆区1号（中和大道） 【沈阳分部】：沈阳理工大学/六宅臻品 【郑州分部】：郑州大学/锦华大厦 【石家庄分部】：河北科技大学/瑞景大厦 【广州分部】：广粮大厦 【西安分部】：协同大厦
近开课时间(周末班/连续班/晚班）：DFT可测试性设计理论和实践培训班开课时间：即将开课，详情请咨询客服。.. |
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实验设备 |
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质量保障 |
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1、培训过程中，如有部分内容理解不透或消化不好，可免费在以后培训班中重听；
2、课程完成后,授课老师留给学员手机和Email,保障培训效果,免费提供半年的技术支持。
3、培训合格学员可享受免费推荐就业机会。 |
DFT可测试性设计理论和实践培训班
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第一阶段 |
课程大纲：
1. VLSI test
2. DFT要点
3. DFT设计流程
4. DFT设计技巧
5. Fault model
6. ATPG
7. ATPG技巧
8. Fault simulation
9. Fault 要点
10. Fault 技巧
11. Fault 流程
12. Scan
13. 扫描技巧
14. 扫描要点
15. 扫描流程
16. JTAG
17. Logic BIST
18. Test compression
19. Memory test
20. Memory 测试要点
21. Memory测试流程
22. Memory测试技巧
23. scan chain/ BSD/BIST 概念与设计方法
24.DFT 的测试原理/测试方法( D算法 向量产生与仿真)
25.BSD 基本单元和JTAG测试
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第二阶段 SCAN synthesis |
1.Scan概念及方法介绍
2.Scan实现流程及问题解决
3.Scan DRC violation讲解及解决方法
4.Scan技巧
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| 第三阶段 ATPG |
1.ATPG介绍
2.Fault models
3.Fault simulation
4.ATPG DRC Violation的解决方法
5.ATPG patten generation
6.测试压缩及方法
7.ATPG patten验证
8.ATPG技巧
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第四阶段 JTAG/1500 |
1.JTAG方法
2.JTAG及其扩展应用
3.JTAG实现及验证
4.JTAG技巧
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第五阶段 BIST/MBIST |
1.BIST/MBIST 方法
2.Memory类型介绍
3.BIST solution
4.MBIST算法
5.MBIST验证
6.BIST/MBIST 技巧
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